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探針臺 2019-07-31 16:19

切點分析線路修改FIB

主要用途 [ !OxZ!  
i K? w6  
芯片的電路修補、斷面切割、透射電鏡樣品制備。 Y:a]00&)#Y  
pz>>)c`  
~&bq0 (  
性能參數(shù) C;urBsC  
A^<iL  
a)著陸電壓范圍 - 電子束:350V~30kV a:6m7U)P#5  
&:) Wh[  
                - 離子束:500V~30kV +K4}Dmg  
TRq6NB  
b)最小分辨率 - 電子束:0.8nm/30kV @;RXLq/8  
gB'6`'  
              - 離子束:2.5nm/30kV [ibu/ W$  
^J;bso`