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探針臺 2019-07-31 16:39

OM分析失效分析

主要用途 bf2n%-&9g  
z(^dwMw}  
樣品外觀、形貌檢測。 4]0:zS*O  
{c LWum[SY  
i>CR{q  
性能參數(shù) ^ /%Y]d$  
-X%t wy=  
a)總放大倍數(shù)為50x-1000x; is^R8a  
b`S9#`  
b)目標Z空間:0-25mm; # .(f7~  
+,ar`:x&a  
c)具有明場、高級暗場(ADF)、偏光(其中檢偏器可旋轉(zhuǎn)360°)、微分干涉觀察功能和預留功能位置,功能轉(zhuǎn)換方便,增減功能操作簡捷; vShB26b  
9IG<9uj  
d)具備記錄光口,可安裝數(shù)碼采集、視頻輸出等多種記錄及輸出方式 G"u4]!$/  
+N+117m  
Zj ` ;IYFG  
OiZ-y7;k^  
應用范圍 [kr-gV  
( )ldn?v