探針臺 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 bf2n%-&9g z(^dwMw} 樣品外觀、形貌檢測。 4]0:zS*O {cLWum[SY i>CR{q 性能參數(shù) ^/%Y]d$ -X%twy= a)總放大倍數(shù)為50x-1000x; is^R8a b`S9#` b)目標Z空間:0-25mm; # .(f7~ +,ar`:x&a c)具有明場、高級暗場(ADF)、偏光(其中檢偏器可旋轉(zhuǎn)360°)、微分干涉觀察功能和預留功能位置,功能轉(zhuǎn)換方便,增減功能操作簡捷; vShB26b 9IG<9uj d)具備記錄光口,可安裝數(shù)碼采集、視頻輸出等多種記錄及輸出方式 G"u4]!$/ +N+117m Zj ` ;IYFG OiZ-y7;k^ 應用范圍 [kr-gV ( )ldn?v
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