| 探針臺 |
2019-08-05 09:19 |
探針測試probe應(yīng)用
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Probe探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 ZIAi Vq2)
應(yīng)用范圍： HF-Msu6
1.利用探針（軟針、硬針、pico probe針）測試芯片pad信號對fib 引出的十字pad進行電性測量。 4%WV)lt
2.液晶發(fā)-漏電分析，利用夜景感測到IC漏電出分子排列重組，在顯微鏡下呈現(xiàn)出不同于其他區(qū)域的斑狀影像，找尋在實際分析中設(shè)計人員困擾的漏電區(qū)域（超過10mA之故障點）
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