| 探針臺(tái) |
2019-08-05 13:42 |
X-光檢測(cè)(X-ray)分析應(yīng)用
MjU6/pO}L
X-光檢測(cè)(X-ray) 76`8=!]R
技術(shù)原理 `G}TG(
基本上，X-ray成像的方式，是利用穿透過(guò)被照射物體的X-ray，經(jīng)過(guò)映像裝置而形成可見(jiàn)影像，主要用來(lái)觀(guān)察IC中含金屬材質(zhì)或結(jié)構(gòu)是否有異常，舉凡打線(xiàn)，銀膠，花架等。 p9x(D/YP0
機(jī)臺(tái)種類(lèi) w9bbMx
X-光檢測(cè)(X-ray)分析應(yīng)用 V{!J-nO
此設(shè)備主要特別設(shè)計(jì)來(lái)針對(duì)PCB的組裝故障檢測(cè) rogT~G}q
主動(dòng)及被動(dòng)元件的焊/錫接著狀況 4GX-ma,
孔洞數(shù)目及比例的計(jì)算 Jt}Bpg!J
混合系統(tǒng)元件 V)[@98T_4?
同時(shí),也對(duì)以下元件提供檢測(cè)感應(yīng)器, 傳感器 )84
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