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探針臺(tái)

2019-08-06 13:50

掃描電子顯微鏡SEM在微觀領(lǐng)域的應(yīng)用

一、掃描電子顯微鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用
（1）金屬材料斷裂失效分析。常見(jiàn)以磨損、腐蝕、斷裂、變形等失效形式存在。通過(guò)對(duì)斷口微觀形貌的觀察，根據(jù)脆性斷裂及韌性斷裂機(jī)理，結(jié)合材料受力狀態(tài)分析，找出失效根源。