| 探針臺(tái) |
2019-08-06 13:53 |
半導(dǎo)體無(wú)損檢測(cè)方法選擇
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第一步：明確產(chǎn)品信息與測(cè)試目的 @L^30>?l
首先，當(dāng)我們拿到待測(cè)的產(chǎn)品時(shí)，第一步要做的就是要清楚產(chǎn)品的大小，材料，重量，結(jié)構(gòu)等基本信息。 !r0 z3^*N
然后要明確測(cè)試的目的是什么？ ;|K(6)
裝配問(wèn)題、激光焊接問(wèn)題、線路連接問(wèn)題、元件焊接問(wèn)題、芯片問(wèn)題，還是元器件內(nèi)部問(wèn)題？同時(shí)關(guān)注點(diǎn)有哪些，例如對(duì)于內(nèi)部缺陷問(wèn)題，是只想檢測(cè)出其內(nèi)部是否存在缺陷還是想明確缺陷的尺寸？ S#7.y~e\
對(duì)于已知信息的把握，有助于我們更準(zhǔn)確的進(jìn)行選擇。 rMUQh~a/
例如，實(shí)驗(yàn)室曾做過(guò)一起案例，客戶送檢產(chǎn)品為某汽車車窗玻璃升降開關(guān)構(gòu)件，需要對(duì)關(guān)鍵塑膠構(gòu)件的氣孔砂眼進(jìn)行檢測(cè)。這里有一個(gè)關(guān)鍵的信息，該產(chǎn)品為結(jié)構(gòu)件且是塑膠材質(zhì)，內(nèi)部是不規(guī)則的，因此C-sam、X-ray都不適用，故選擇使用CT掃描來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，得到如下圖示。 ]p~,C*UH0
第二步：確定問(wèn)題的類型 \3z
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