半導(dǎo)體失效分析

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失效分析定義：一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。我司已積累眾多經(jīng)驗(yàn)豐富，專業(yè)的智力資源，為廣大用護(hù)提供失效分析服務(wù)。 ] X9
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失效分析目的： Y_H|Fl^  
（1） 明確潛在失效機(jī)理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節(jié)，為改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)，選材等提供依據(jù)。 w A0$d  
（2） 通過(guò)失效機(jī)理分析還可以預(yù)測(cè)可靠性，起到技術(shù)反饋?zhàn)饔谩?span style="display:none"> o IUjd  
（3） 在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。