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SEM（掃描電子顯微鏡）
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探針臺(tái)
2019-08-07 10:48
SEM（掃描電子顯微鏡）
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SEM掃描電子顯微鏡目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于分析樣品表面形貌，且先進(jìn)的FE-SEM(場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡)可輕易達(dá)到30萬(wàn)倍的放大倍數(shù)。
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