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探針臺(tái) 2019-08-07 10:49

能譜X射線光譜儀EDX

u7S C_3R  
EDX(能量色散X射線光譜儀)ASDF mwutv8?  
不同元素的特征X射線在電子束撞擊樣品表面時(shí)會(huì)被激發(fā)出來。能量色散X射線光譜儀通過測(cè)量特征X射線的能量和強(qiáng)度來鑒別樣品中的元素組成并進(jìn)行定量分析。該儀器通常與掃描電子顯微鏡(SEM)或透射電子顯微鏡(TEM)結(jié)合使用,能對(duì)微米及納米級(jí)別的區(qū)域進(jìn)行元素分析。
優(yōu)勢(shì)局限
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- 分析快速 wb>"'%  
- 廉價(jià)易得 E9\u^"GVO  
- 非破壞性分析
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- 采樣深度大 y@(EGfI  
- 無化學(xué)態(tài)信息 Z*n4$?%W  
- 對(duì)輕元素靈敏度低 .%