探針臺 |
2019-08-08 14:48 |
免費FIB線路修改
科技回報社會,為感謝社會各界對我中心的支持和信任,現(xiàn)回報一個月的免費FIB測試。 GK-__Y. +
c"$-Jr FIB是什么? 2v9T&xo= FIB中文名稱聚焦離子束,英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號取得電子像,此功能與SEM(掃描電子顯微鏡)相似,或用強(qiáng)電流離子束對表面原子進(jìn)行剝離,以完成微、納米級表面形貌加工。 Z=\wI:TY1 !$|h[ct FIB能做什么事? E A}Vb(2 FIB是微納米分析測試的重要方式,主用應(yīng)用領(lǐng)域有: r>gU*bs( 1. IC芯片電路修改 dqo&3^px 2. Cross-Section 截面分析 ]@bu%_s" 3. Probing Pad A~7q=- 4. FIB透射電鏡樣品制備 Ci?A4q$. 5. 材料鑒定 v a
j ^RO_B}n3 免費FIB招募范圍: [j^c&}0 1. 境內(nèi)外企事業(yè)單位,團(tuán)體,個人均可報名參加。
]6 ]Nr 2. 鋁制程樣品線路修改,切線連線(銅制程樣品本次不接收)。 {&Es3+{A $2+(|VG4F 免費FIB招募要求: H(k-jAO, 1. 方案完整,清晰,明確。 r%DaBx!x8 2. 每個方案多加一兩顆備片。 x9{&rldC 3. 用戶收到測試好樣品后,兩個工作日內(nèi)測試樣品功能,郵件反饋測試效果。 voAen&>! L-v-KO6 免費FIB招募時間: Jg\1(ix 2019年8月8日-2019年9月8日。 o$FYCz n 樣品樣品以收到時間為準(zhǔn),方案以郵件時間為準(zhǔn)。 +rA:/!b)Y K!a4>Du{ 免費FIB注意事項: =$t 1. 受樣品本身,方案,設(shè)備,操作,經(jīng)驗,運(yùn)輸,時效等多方面因素影響,FIB不保證每個方案都能通過測試,對結(jié)果要求苛刻的用戶請不要參與。 ~GZpAPg* 2. 免費FIB優(yōu)先等級低于付費測試,工程師會在設(shè)備空閑時段操作,比常規(guī)付費測試所需周期長,對時間要求緊迫的用戶請不要參與。避免中間催促影響工程師工作效率和測試質(zhì)量。測試完成的方案會第一時間反饋給用戶,并安排快遞送回樣品。 5? rR'0 $IU|zda8 實驗室介紹: ^w*$qzESy 北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測檢驗中心(簡稱:北軟檢測)成立于2002 年7月,是經(jīng)北京市編辦批準(zhǔn),由北京市科學(xué)技術(shù)委員會和北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月,國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局批準(zhǔn)在北軟檢測基礎(chǔ)上籌建國家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心(簡稱:國軟檢測),2004年10月國軟檢測通過驗收并正式獲得授權(quán),成為我國第一個國家級的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗機(jī)構(gòu)。 ;x=r.3OQy Oe^oigcM 中心依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn) ISO/IEC 17025:2005《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》和ISO 9001:2015《質(zhì)量管理體系要求》建立了嚴(yán)謹(jǐn)?shù)馁|(zhì)量體系,擁有一流的軟件測試平臺,2600平方米的測試場地,1000多臺套的測試設(shè)備和上百人的專業(yè)測試工程師隊伍。目前具有資質(zhì)認(rèn)定計量認(rèn)證(CMA)、資質(zhì)認(rèn)定授權(quán)證書(CAL)、實驗室認(rèn)可證書(CNAS)、檢驗機(jī)構(gòu)認(rèn)可證書(CNAS)、信息安全風(fēng)險評估服務(wù)資質(zhì)認(rèn)證證書(CCRC),信息安全等級保護(hù)測評機(jī)構(gòu)(DJCP)、ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證、ISO/IEC 27001:2013信息安全管理體系認(rèn)證等各種資質(zhì)。 ttaYtV]] ahJu+y 智能產(chǎn)品檢測實驗室于2015年底實施運(yùn)營,能夠依據(jù)國際、國內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)實施檢測工作,開展從底層芯片到實際產(chǎn)品,從物理到邏輯全面的檢測工作,提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點激光注入等安全檢測服務(wù),同時可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象,找出失效原因的失效分析檢測服務(wù),主要包括點針工作站(Probe Station)、反應(yīng)離子刻蝕(RIE)、微漏電偵測系統(tǒng)(EMMI)、X-Ray檢測,缺陷切割觀察系統(tǒng)(FIB系統(tǒng))等檢測試驗。實現(xiàn)對智能產(chǎn)品質(zhì)量的評估及分析,為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。 jJfV_#'N' e//q`?ys 參與方式: 3S_H hvB 送樣,快遞均可 #MhieG5 D+:}
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