| 探針臺(tái) |
2019-09-17 14:15 |
Dual-beam FIB
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雙束聚焦離子束(Dual-beam FIB)：雙束聚焦離子束,北京雙束聚焦離子束,檢測(cè) + pq/:h
Dual-beam FIB機(jī)臺(tái)能在以離子束切割樣品時(shí)，同時(shí)用電子束對(duì)斷面進(jìn)行觀察。所建置的業(yè)界相當(dāng)高階機(jī)臺(tái)，具備超高分辨率的離子束及電子束。能針對(duì)樣品中的微細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行奈米尺度的定位及觀察，大幅提升失效分析及TEM樣品制備的成功率與影像質(zhì)量。 --32kuF&(
雙束型聚焦離子束顯微鏡的應(yīng)用，主要以下列所述為主： V&j
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