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探針臺(tái) 2019-09-26 11:49

聚焦離子束FIB測(cè)試交流群

uIO,9> ee  
FIB含義: P (7el  
聚焦離子束(Focused Ion beam簡(jiǎn)寫FIB)是將離子源(大多數(shù)FIB都用Ga,也有設(shè)備具有HeNe離子源)產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速,聚焦后作用于樣品表面。作用:  X{Vs  
1.產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像.此功能與SEM(掃描電子顯微鏡)相似