| 探針臺 |
2019-10-10 10:34 |
掃描電鏡測試微信交流群
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掃描電鏡測試微信交流群SEM/EDX（形貌觀測、成分分析）掃描電鏡（SEM）可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現(xiàn)的，根據(jù)不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡（SEM）使用，可以對樣品進行微區(qū)成分分析。 i_QiE 2 d
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服務(wù)范圍：軍工，航天，半導(dǎo)體，先進材料等 {d]B+'
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服務(wù)內(nèi)容：1.材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 dLeos9M:
2.材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 0c1=M|2
3.薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析 33 wVP}e5
4.納米尺寸量測及標示 +$xw0)|
5.微區(qū)成分定性及定量分析 ;uv$>F auk
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FIB（聚焦離子束，Focused Ion beam）是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強電流離子束對表面原子進行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。 @F*z/E}e
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服務(wù)范圍：工業(yè)和理論材料研究，半導(dǎo)體，數(shù)據(jù)存儲，自然資源等領(lǐng)域 p$= 3$I
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