| 探針臺(tái) |
2019-12-26 16:17 |
掃描電鏡聚焦離子束能譜分析SEM,FIB,EDX
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掃描電鏡聚焦離子束能譜分析SEM,FIB,EDX
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SEM/EDX（形貌觀測(cè)、成分分析）掃描電鏡（SEM）可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的，根據(jù)不同元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來測(cè)定試樣所含的元素。通過對(duì)比不同元素譜線的強(qiáng)度可以測(cè)定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡（SEM）使用，可以對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。 pD { Li\LY
服務(wù)范圍：軍工，航天，半導(dǎo)體，先進(jìn)材料等 !tVV +vT#
服務(wù)內(nèi)容：1.材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 ,70|I{,Km
2.材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 rpd3Rp
3.薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析 ,^3D"Tky
4.納米尺寸量測(cè)及標(biāo)示 p|Ln;aYc
5.微區(qū)成分定性及定量分析 #f[yp=uI:
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FIB（聚焦離子束，Focused Ion beam）是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子進(jìn)行剝離，以完成微、納米級(jí)表面形貌加工。 R_lNC]b0
服務(wù)范圍：工業(yè)和理論材料研究，半導(dǎo)體，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，自然資源等領(lǐng)域 49CMR O,T
服務(wù)內(nèi)容：1.芯片電路修改和布局驗(yàn)證 =(o$1v/k
2.Cross-Section截面分析 vUW
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