| 探針臺(tái) |
2020-02-10 14:45 |
集成電路質(zhì)量與可靠性
集成電路質(zhì)量與可靠性 myl+J;,]
質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說(shuō)是IC產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)，長(zhǎng)久的耐力往往就是一顆優(yōu)秀IC產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力所在。在做產(chǎn)品驗(yàn)證時(shí)我們往往會(huì)遇到三個(gè)問(wèn)題，驗(yàn)證什么，如何去驗(yàn)證，哪里去驗(yàn)證，這就是what, how , where 的問(wèn)題了。 R\@/U=iqR
解決了這三個(gè)問(wèn)題，質(zhì)量和可靠性就有了保證，制造商才可以大量地將產(chǎn)品推向市場(chǎng)，客戶(hù)才可以放心地使用產(chǎn)品。本文將目前較為流行的測(cè)試方法加以簡(jiǎn)單歸類(lèi)和闡述，力求達(dá)到拋磚引玉的作用。 1i[FY?6`dh
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質(zhì)量（Quality）就是產(chǎn)品性能的測(cè)量，它回答了一個(gè)產(chǎn)品是否合乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項(xiàng)性能指標(biāo)的問(wèn)題；可靠性（Reliability）則是對(duì)產(chǎn)品耐久力的測(cè)量，它回答了一個(gè)產(chǎn)品生命周期有多長(zhǎng)，簡(jiǎn)單說(shuō)，它能用多久的問(wèn)題。所以說(shuō)質(zhì)量（Quality）解決的是現(xiàn)階段的問(wèn)題，可靠性（Reliability）解決的是一段時(shí)間以后的問(wèn)題。知道了兩者的區(qū)別，我們發(fā)現(xiàn)，Quality的問(wèn)題解決方法往往比較直接，設(shè)計(jì)和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來(lái)后，通過(guò)簡(jiǎn)單的測(cè)試，就可以知道產(chǎn)品的性能是否達(dá)到SPEC的要求，這種測(cè)試在IC的設(shè)計(jì)和制造單位就可以進(jìn)行。相對(duì)而言，Reliability的問(wèn)題似乎就變的十分棘手，這個(gè)產(chǎn)品能用多久，誰(shuí)會(huì)能保證今天產(chǎn)品能用，明天就一定能用？ #P
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為了解決這個(gè)問(wèn)題，人們制定了各種各樣的標(biāo)準(zhǔn)，如: JESD22-A108-A、EIAJED- 4701-D101，注：JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）電子設(shè)備工程聯(lián)合委員會(huì)，著名國(guó)際電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化組織之一；EIAJED：日本電子工業(yè)協(xié)會(huì)，著名國(guó)際電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化組織之一。 +LM#n #T
在介紹一些目前較為流行的Reliability的測(cè)試方法之前，我們先來(lái)認(rèn)識(shí)一下IC產(chǎn)品的生命周期。典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線(xiàn)（Bathtub Curve）來(lái)表示。 $6OkIP.
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Region (I) 被稱(chēng)為早夭期（Infancy period） OxI/%yv-c
這個(gè)階段產(chǎn)品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程中的缺陷； pn.wud}R
Region (II) 被稱(chēng)為使用期（Useful life period） = C4
在這個(gè)階段產(chǎn)品的failure rate保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機(jī)的，比如溫度變化等等； $hivlI-7Ko
Region (III) 被稱(chēng)為磨耗期（Wear-Out period） W`\R%>$H
在這個(gè)階段failure rate 會(huì)快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長(zhǎng)期使用所造成的老化等。 o(DOQ
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