| 探針臺 |
2020-02-10 14:49 |
雙束FIB---Scios 2 DualBeam
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使用 Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡便地制備高質量、定位TEM 和原子探針樣品 HS(U4
Thermo Scientific NICol™ 電子鏡筒可進行超高分辨率成像， 滿足最廣泛類型樣品（包括磁性和不導電材料）的最佳成像需求 ]d^ k4 d
各類集成化鏡筒內及極靴下探測器，采集優(yōu)質、銳利、無荷電圖像，提供最完整的樣品信息 _tA 7=*@8
可選AS&V4軟件，精確定位感興趣區(qū)域，獲取優(yōu)質、多模態(tài) 內部和三維信息 D/c g7
高度靈活的110 mm樣品臺和內置的Thermo Scientific Nav-Cam™相機實現精確樣品導航 blUY.{NN3
專用的DCFI、漂移抑制技術和Thermo Scientific SmartScan™等模式實現無偽影成像和圖形加工 m[W/j/$A+x
靈活的 DualBeam 配置，優(yōu)化解決方案滿足特定應用需求 o:H'r7N
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通用型高性能雙束系統 9QC< E|
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Scios 2 DualBeam 提供最佳的樣品制備、內部及三維表征性能，可滿足最廣泛類型樣品的應用需求。 *^uGvJXF
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Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系統是一款超高分辨率分析系統，可為最廣泛類型的樣品（包括磁性和不導電材料） 提供出色的樣品制備和三維表征性能。 Scios 2 DualBeam 系統創(chuàng)新性的功能設計，優(yōu)化了其樣品處理能力、分析精度和易用性， 是滿足科學家和工程師在學術、政府和工業(yè)研究環(huán)境中進行高級研究和分析的理想解決方案。該系統于2013年推出市場，MTBF>1500hr，深受廣大半導體用戶愛戴。 ?P%|P
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高質量 TEM 制樣 k~{Fnkt
科學家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)，需要對具有更小特征的日益復雜的樣品進行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系統的最新技術創(chuàng)新，結合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific 9uKOR7.zbo
AutoTEM™4軟件（可選）和專業(yè)的應用知識，可快速輕松地定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。 為了獲得高質量的結果， 需要使用低能離子進行精拋，以最大限度地減少樣品的表面損傷。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦離子束（FIB）鏡筒不僅可以在高電壓下提供高分辨率成像和刻蝕，而且具有良好的低電壓性能，可以制備高質量的TEM薄片。 [;*\P\Xih
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