| 探針臺 |
2020-03-13 14:36 |
手動探針臺在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用
手動探針臺在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用 ~"Ki2'j)^]
2020年比較艱難的開始了，好事多磨，相信經(jīng)歷過新型冠狀病毒的洗禮后，我國的經(jīng)濟會有爆發(fā)式的增長。開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢，在此收集整理供手動探針臺相關(guān)信息供大家參考。因經(jīng)驗有限，有說的不合適的地方，望大家指正。 dwMwd@*j
一：手動探針臺用途： rapca'&#
探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 26K ~m@
手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。 uZI a-b
手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域： 9(j!#`O7&
Failure analysis 集成電路失效分析 ??V["o T
Wafer leve reliability晶元可靠性認證 :%MWbnVSC,
Device characterization 元器件特性量測 b.;}Hq>
Process modeling塑性過程測試(材料特性分析) qG]PUc>j
IC Process monitoring 制成監(jiān)控 _I4sy=tYXK
Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試 V1A3l{>L
Flat paneprobing 液晶面板的特性測試 P,_E 4y
PC board probing PC主板的電性測試 ]#n4A|& H
ESD&TDR testing ESD和TDR測試 ht9b=1wd%s
Microwave probing 微波量測(高頻) $8r:&Iw
Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析 <-}\V!@E!
LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析 Q~_x%KN/`
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二：手動探針臺的使用方式：
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1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。 PM7/fv *,
2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。 CV
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