| 探針臺(tái) |
2020-04-09 15:27 |
聚焦離子束顯微鏡FIB
聚焦離子束顯微鏡FIB xX{Zh;M&[
聚焦離子束 _(~ E8g
FIB（聚焦離子束，ed Ion beam)是將液態(tài)金屬(大多數(shù)FIB都用Ga)離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像.此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似,或用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子進(jìn)行剝離,以完成微、納米級(jí)表面形貌加工.通常是以物理濺射的方式搭配化學(xué)氣體反應(yīng)，有選擇性的剝除金屬,氧化硅層或沉積金屬層。 1g t 7My
中文名聚焦離子束 pStb j`Eq
外文名 FIB、ed Ion Beam )Spa
F)N8
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(Jj xrZ+L
應(yīng)用 WD[jEWMV7D
IC芯片電路修改等 %z-s
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