| 探針臺 |
2020-05-12 10:28 |
掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用
掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用范圍： 0]
1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 77)WNL/
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2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 3rKJ<(-2/
3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析 S$Zi{bU`G
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S=mqxI o@m
掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片。 qJdlZW<
樣品要求： ]n|Jc_Y
樣品必須是固體；滿足無毒，無放射性，無污染，無磁，無水，成分穩(wěn)定要求。 i}DS+~8v
制備原則： [DM 0 '4
表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進行適當(dāng)清洗，然后烘干； aU_ Hl+;
新斷開的斷口或斷面，一般不需要進行處理，以免破壞斷口或表面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)； ^r&)@R$V
要侵蝕的試樣表面或斷口應(yīng)清洗干凈并烘干； W~ET/h
磁性樣品預(yù)先去磁； P 7.bn
試樣大小要適合儀器專用樣品座尺寸。 ,?|$D
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