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2021-03-12 15:39 |
芯片失效分析領(lǐng)取點(diǎn)列表
Pz|qy, d<7J)zUm3 芯片失效分析領(lǐng)取點(diǎn)列表 ?3}UO:B rpEFyHorJ 彩頁自取點(diǎn):2021年3月17-19日 上海新國(guó)際博覽中心 P1)
80<t ,uKvE`H 入場(chǎng)無需核酸檢測(cè)證明 `8dE8:#Y
z}bnw2d] 彩頁主要內(nèi)容為失效分析項(xiàng)目Decap;X-Ray;3D X-Ray;SAT;IV;FIB;EMMI;SEM;EDX;OM;Probe;切割制樣;Rie;定點(diǎn)研磨;非定點(diǎn)研磨;高溫存儲(chǔ);低溫存儲(chǔ)等介紹。 2hJ{+E.m
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{yb\p9q{Yo 北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心(簡(jiǎn)稱:北軟檢測(cè))成立于2002 年7月,是經(jīng)北京市編辦批準(zhǔn),由北京市科學(xué)技術(shù)委員會(huì)和北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月,國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局批準(zhǔn)在北軟檢測(cè)基礎(chǔ)上籌建國(guó)家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(簡(jiǎn)稱:國(guó)軟檢測(cè)),2004年10月國(guó)軟檢測(cè)通過驗(yàn)收并正式獲得授權(quán),成為我國(guó)第一個(gè)國(guó)家級(jí)的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。 Ix"c<1I
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