| cyqdesign |
2021-10-16 11:57 |
研究人員用磁芯損耗光譜學(xué)來確定有機(jī)分子的特性
如果可以可靠地預(yù)測材料的特性，那么為大量行業(yè)開發(fā)新產(chǎn)品的過程就可以被簡化和加速。在發(fā)表在《先進(jìn)智能系統(tǒng)》上的一項研究中，來自東京大學(xué)工業(yè)科學(xué)研究所的研究人員利用機(jī)器學(xué)習(xí)，用磁芯損耗光譜學(xué)來確定有機(jī)分子的特性。 c,\i"=!$
?=Pd
光譜技術(shù)能量損失近邊結(jié)構(gòu)（ELNES）和X射線近邊結(jié)構(gòu)（XANES）被用來確定材料中電子的信息，并通過它確定原子。它們具有高靈敏度和高分辨率，已被用于研究從電子設(shè)備到藥物輸送系統(tǒng)的一系列材料。 2h=%K/hhY
$14:(<
然而，將光譜數(shù)據(jù)與材料的特性--如光學(xué)特性、電子傳導(dǎo)性、密度和穩(wěn)定性--聯(lián)系起來仍然是不明確的。機(jī)器學(xué)習(xí)方法已被用于提取大型復(fù)雜數(shù)據(jù)集的信息。這種方法使用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，它基于我們的大腦如何工作，不斷學(xué)習(xí)以解決問題。盡管該小組之前使用ELNES/XANES光譜和ML來找出材料的信息，但他們發(fā)現(xiàn)的東西與材料本身的屬性無關(guān)。因此，這些信息不能輕易轉(zhuǎn)化為發(fā)展。
| |