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george1977 2007-03-15 10:44

薄膜測量設(shè)備(膜厚、n、k等)

美國Filmetrics公司F20系列薄膜測量設(shè)備:可精確快速測量各種光學(xué)及半導(dǎo)體薄膜的厚度、折射率及消光系數(shù)等。 -~w'Xo