| infotek | 2022-02-10 09:04 |
光束足跡分析當(dāng)一個(gè)分析請求執(zhí)行時(shí)，重要的是記住在FRED中的分析面只是在光線追跡結(jié)束后的后處理(過濾)光線。在光線追跡的過程中，它們不收集光線信息，無論光線的軌跡是否穿過分析網(wǎng)格。那么問題來了，“如何分析在光線追跡的過程中光線穿過光學(xué)空間的光場？” 一種選擇是使用FRED探測器實(shí)體(Detector Entity)結(jié)構(gòu)。探測器實(shí)體與分析面類似，不過它們可以放在任何光學(xué)空間，而且可以在光線追跡的過程中動(dòng)態(tài)地收集光線信息(即光線穿過它們的收集網(wǎng)格)。目前，探測器實(shí)體對于相干或偏振光不起作用，只可以執(zhí)行輻照度、照度和彩色圖像的分析。 盡管FRED沒有一個(gè)內(nèi)置的“光束足跡分析”程序，但我們將在FRED中使用探測器實(shí)體結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)類似的功能。 設(shè)置計(jì)算 文章使用如下圖像所示的光學(xué)系統(tǒng)。我們的目的是分析沿著如下所示的光路多個(gè)平面的處的光束足跡。  | |