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2022-04-25 08:39 |
研究人員展示無標(biāo)記超分辨率顯微技術(shù)
研究人員開發(fā)了一種新的測量和成像方法，可在不需要任何染料或標(biāo)簽的情況下解析小于光衍射極限的納米結(jié)構(gòu)。這種激光掃描顯微鏡新方法彌補(bǔ)了傳統(tǒng)顯微鏡和超分辨率技術(shù)之間的差距，有朝一日或可被用來觀察復(fù)雜樣品的精細(xì)特征。 u&1q [0y
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《Optica》期刊中描述的這種新方法，是對激光掃描顯微鏡的改進(jìn)，它使用強(qiáng)聚焦激光束照射標(biāo)本。研究人員擴(kuò)展了這項(xiàng)技術(shù)，不僅可以測量光與被研究標(biāo)本相互作用后的亮度或強(qiáng)度，還可以檢測光場中編碼的其他參數(shù)。 _|iSF2f,X
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研究小組組長彼得·班澤說：“我們的方法可幫助擴(kuò)展用于研究各種樣品中納米結(jié)構(gòu)的顯微工具箱。與基于類似掃描方法的超分辨率技術(shù)相比，我們的方法是完全非侵入性的，這意味著它不需要在成像前向標(biāo)本中注入任何熒光分子�！� nePfu G]Q
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研究表明，新方法可測量金納米顆粒的位置和大小，精度為幾納米，即使在多個(gè)顆粒接觸的情況下也可做到。 }e !x5g
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在激光掃描顯微鏡中，光束在樣品上掃描，并測量來自樣品的透射光、反射光或散射光。大多數(shù)顯微方法測量來自樣品的光強(qiáng)度或亮度，但大量信息存儲(chǔ)在光的其他特性中，例如它的相位、偏振和散射角。為了捕捉這些額外信息，研究人員檢查了強(qiáng)度和偏振信息的空間分辨率。 )n+Lo&C<
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研究人員表示，光的相位、偏振和強(qiáng)度，在空間上都會(huì)發(fā)生變化，這種變化方式包含了與之相互作用的樣品細(xì)節(jié)，然而，如果只在相互作用后測量總體光功率，那么大部分信息都會(huì)被忽略。 ZNJ@F<
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