| infotek |
2022-04-26 09:26 |
使用部分相干光的楊氏干涉實(shí)驗(yàn)
雙縫干涉實(shí)驗(yàn)最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行，它顯示了光的波動性質(zhì)，是空間相干測量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中，我們用單點(diǎn)光源和擴(kuò)展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實(shí)驗(yàn)。我們通過檢查干涉條紋對比度的變化來研究擴(kuò)展源的相干特性。 8>%hz$no=
/7LR;>B
| |