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infotek 2022-05-09 08:44

Techwiz LCD 1D的TN模式光學(xué)分析

TN模式的電極分別位于上下基板上，由垂直電場控制液晶分子旋轉(zhuǎn)。常白型TN模式上下偏光板吸收軸相互垂直，常黑型TN模式上下偏光板的吸收軸相互平行。我們在Techwiz LCD 1D 中對這兩種TN模式的光學(xué)特性進(jìn)行分析，并討論液晶盒厚度的影響。 )[ZXPD  
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創(chuàng)建堆棧結(jié)構(gòu) #V]8FW  
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U/s Z1u-  
設(shè)定仿真條件，并把上偏光片和液晶盒厚度設(shè)置為變量并輸入變量條件，最后執(zhí)行結(jié)果分析。 N '&>bO?@`  
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結(jié)果分析  1hi, &h  
d-e/0F!  
1.透過率隨盒厚的變化 S hy.:XI  
Fv %@k{  
TN模式下不同波長透過率隨液晶盒厚度d(um)的變化(常白模式opt.Axis:phi -135和常黑模式opt.Axis.phi -45)
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可以看出透過率隨著Δnd的增大而周期性變化，選擇第一處極值(2.5um)為液晶盒厚分析光學(xué)特性。 U>.5vK.+  
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