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2022-07-05 09:00 |
FRED應用：二階鬼像分析
FRED能夠提供用戶有關通過光機系統(tǒng)任意鬼像和散射路徑的詳細情況。我們簡單地設置光學和機械的物理屬性 (涂層、材料、散射模型等)，設置一個合適的光源，并且讓FRED記錄下在光線追跡時系統(tǒng)所有唯一的路徑。當光線追跡完成時，我們可以對光線追跡的路徑進行后期處理，來提取出與我們系統(tǒng)相關的路徑。 ?hmuAgOtbh
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然而，假設我們對于表征一個光學系統(tǒng)中的初級鬼像路徑很感興趣，或者我們的系統(tǒng)沒有完全的開發(fā)或改進，來保證一個長的多階次的雜散光分析。本文介紹了一個腳本，可以在一個導入的序列設計中對初級鬼像路徑進行自動分析。我們首先來討論合理地設置分析中導入的序列文件的過程，然后討論腳本的運行以及執(zhí)行分析的過程。 ]N;\AXZ 7
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指定表面涂層性質(zhì) wJc`^gj
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分析的要點是找出多少功率(以及功率的分布)到達了我們的焦平面，這是由在我們的透鏡表面之間的鏡面系列的現(xiàn)象產(chǎn)生的，這些都不是“設計”路徑。舉個例子，我們第一個透鏡元件內(nèi)的內(nèi)部反彈可能會到達探測器，我們希望可以量化它的貢獻。 =9 1w C
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