| infotek | 2023-01-04 08:50 |
用Fabry-Pérot標準具檢測鈉D線摘要  Fabry-Pérot標準具廣泛應用于激光諧振器和光譜學中，用于敏感波長的濾波。通常，它們由兩個高反射(HR)涂層表面和之間的空氣(或玻璃)組成。在這個例子中，建立了一個以硅為間層的標準具光學測量系統(tǒng)，以測量鈉D線。利用非序列場追跡技術(shù)，充分考慮了多元反射對條紋對比度的影響，研究了涂層的反射率對條紋對比度的影響。 建模任務  具有高反射(HR)涂層的標準具  圖層矩陣解算器  分層介質(zhì)組件采用圖層矩陣電磁場求解器。該求解器工作在空間頻域(k-域)。它包含 1. 一個特征模求解器為每個均勻?qū)雍?span style="display:none"> "?9fL#8f*! 2. 一個s矩陣，用于在所有接口處匹配邊界條件。 本征模求解器計算各層均勻介質(zhì)k域的場解。S-矩陣算法通過遞歸方式匹配邊界條件計算整個圖層系統(tǒng)的響應。 這種方法以其無條件的數(shù)值穩(wěn)定性而聞名，因為與傳統(tǒng)的傳遞矩陣不同，它避免了計算步驟中的指數(shù)增長函數(shù)。 更多的信息：  總結(jié)-組件 | |