| infotek | 2023-04-24 09:07 |
六月線下培訓課程——雜散光分析與控制時間地點：[/td][/tr][tr][td] 主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司；蘇州黌論教育咨詢有限公司 授課時間：2023年6月5日（一）-7日（三）共3天 AM 9:00-PM 16:00 授課地點：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室 課程講師：訊技光電高級工程師 課程費用：4800RMB(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐費用)[/td][/tr][tr][td]課程簡介：[/td][/tr][tr][td] 雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個方面探索：雜散光輻射理論，雜散光合格判定標準、系統(tǒng)雜光測試方法，雜光分析與軟件，BSDF與測量數(shù)據，雜光抑制設計等。本課程介紹空間光學系統(tǒng)的雜散光來源，以及對紅外光學系統(tǒng)成像質量的影響，在簡化分析上，討論了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學系統(tǒng)模型討論了雜散光計算和分析方法。用具體的模型說明雜散光分析和計算假設條件，為以后利用軟件進行雜散光分析打下基礎。RC望遠鏡系統(tǒng)，具體突出紅外熱輻射和冷反射計算，在以往的方法中我們通過計算點列圖來實現(xiàn)，但存在諸多的缺陷，如環(huán)境與鏡筒溫度變化、計算量大等缺點，我們將從實際的積分公式出發(fā)進行該望遠鏡系統(tǒng)仿真。[/td][/tr][tr][td][/td][/tr][tr][td]課程大綱：[/td][/tr][tr][td] 1. 雜散光介紹與術語 1.1 雜散光路徑 1.2 關鍵面和照明面 1.3雜光內部和外部雜散光 2. 基本輻射度量學-輻射 2.1 BSDF及其散射模型 2.2 TIS總散射概念 2.3 PST(點源透射比) 3. 雜散光分析中的光線追跡  3.1 FRED軟件光線追跡介紹 3.2構建雜散光模型 定義光學和機械幾何 定義光學屬性 3.3 光線追跡 使用光線追跡來量化收斂速度 重點采樣 反向光線追跡 控制光線Ancestry以增加收斂速度 使用蒙特卡洛光線劈裂增加收斂速度 使用GPU來進行追跡 RAM內存使用設置 4.散射模型 4.1來自表面粗糙的散射 低頻、中頻、高頻 RMS粗糙度與BSDF的關系 由PSD推導BSDF 擬合BSDF測量數(shù)據 4.2 來自劃痕(光學損傷坑)的散射 4.3 來自顆粒污染的散射 來自球形顆粒中的散射（米氏散射理論） 顆粒密度函數(shù)模型 案例：計算激光通過金屬粉塵的吸收 4.4 來自黑處理表面的散射 4.5 孔徑衍射 雜散光程序中的孔徑衍射 衍射元件的衍射特性 案例：衍射雜散光分析 5. 大氣湍流散射 6. 熱輻射 紅外熱輻射的雜散光分析 冷反射仿真 7. 鬼像反射 鬼像反射 表面鍍膜 表面鍍AR增透膜的仿真 8. 光學設計中的雜散光控制 8.1使用視場光闌 8.2減小孔徑光闌和焦平面間的幾何元件數(shù)量 | |