用于光學(xué)檢測的斐索干涉儀

""IPaNHQ   斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計量設(shè)備，通常用于高精度測試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個Fizeau干涉儀，并將其用于測試不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形表面。結(jié)果表明，表面輪廓對干涉條紋的產(chǎn)生是敏感的。 ,l.+$G   <RcB: h   :d~mlyFI6P   %vUUx+   建模任務(wù) =%|f-x   ~*`wRiUhis   $QwzL/a   8C*xrg#g:   測試表面 t| B<F t^   s~k62   M XuHA?   < SdOb#2   非序列追跡 XW+-E^d   ,V''?@   %}unlSTPP   .(s@{=   通用探測器和探測器附加組件 9fCU+s   '-#gQxIpD   b,47 EJ}   Z1p%6f`   總結(jié)-組件… G0Z$p6z   /K;A