用于高NA顯微鏡成像的工程化PSF
顯微成像技術在最近的幾十年中得到迅速發(fā)展。 PSF（點擴散函數(shù)）通常不是像平面上的艾里斑。當對沿縱軸定向的偶極子源進行成像時，可以設計出一個甜甜圈形狀。 我們在VirtualLab Fusion中證明，當偶極子源的方向發(fā)生變化時，會獲得不同的非對稱PSF（不是艾里斑）。 此外，可通過在顯微鏡系統(tǒng)的光瞳平面中插入一定的相位掩模來獲得雙螺旋PSF [Ginni Grover et al., Opt. Exp. 2012]。通過這種工程化的PSF，甚至可以觀察到物體的微小散焦，即與傳統(tǒng)的成像方法相比，可以大大提高軸向分辨率。 我們通過在VirtualLab Fusion中應用商業(yè)顯微鏡鏡頭（Nikon）系統(tǒng)來演示此現(xiàn)象。 1~5q :X
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使用高NA顯微鏡系統(tǒng)分析偶極子源的PSF &M3E S}6
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在VirtualLab Fusion中，可以直接分析偶極子源的PSF。 該實驗證明了當偶極子源的方向改變時，PSF具有不同的形狀。 }{wTlR.]
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用于3D成像顯微鏡的雙螺旋PSF A?IZ(
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在VirtualLab Fusion中，通過在高NA顯微鏡系統(tǒng)的光瞳平面中插入相位掩模，以簡單快捷的方式分析雙螺旋PSF。 結果表明，即使只有一點散焦（〜130 nm）的物點，雙螺旋PSF也會有旋轉。 _m7U-;G
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