在過去的幾十年里，光電器件的集成化、小型化已經(jīng)成為現(xiàn)代光子學(xué)發(fā)展的主要驅(qū)動(dòng)力。為了更精確地認(rèn)知集成光子回路中超短光脈沖的產(chǎn)生、傳輸、相互作用和動(dòng)態(tài)演變，開發(fā)一種可實(shí)時(shí)、原位、全參量表征的超快光脈沖片上表征技術(shù)顯得尤為重要。傳統(tǒng)的超快脈沖測(cè)量技術(shù)，如頻域分辨光學(xué)開關(guān)(FROG)技術(shù)，無法直接集成到片上光子芯片中，而需要將信號(hào)提取出來并利用塊狀的非線性光學(xué)晶體測(cè)量相關(guān)信息。顯然，信號(hào)提取的過程將會(huì)帶來不可避免的光脈沖信息失真，且無法了解光脈沖在光子回路中的動(dòng)態(tài)演變信息。 ly0L)L]\ A:GqR;;"x> 近日，華南理工大學(xué)虞華康、李志遠(yuǎn)教授團(tuán)隊(duì)研發(fā)了一種可集成的新型超快光脈沖原位表征技術(shù)，在《激光與光子學(xué)評(píng)論》(Laser & Photonics Reviews)發(fā)表最近研究論文“Frequency-Resolved Optical Gating in Transverse Geometry for On-Chip Optical Pulse Diagnostics”。該種技術(shù)基于鈮酸鋰薄膜波導(dǎo)平臺(tái)，待測(cè)脈沖在鈮酸鋰光波導(dǎo)中相向傳播并相遇，基于橫向光學(xué)二倍頻的原理，在其相交重疊區(qū)域，自動(dòng)產(chǎn)生了時(shí)間自相關(guān)的光學(xué)二倍頻信號(hào)。通過將空間坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為時(shí)間延遲并對(duì)自相關(guān)光學(xué)二倍頻強(qiáng)度分布進(jìn)行光譜成像，得到相當(dāng)于傳統(tǒng)FROG的跡線圖，利用反演算法則可還原得到待測(cè)超快光脈沖的時(shí)域與頻域上的強(qiáng)度和相位信息，至此完成對(duì)波導(dǎo)中超快光脈沖的原位全參量表征。 kc P ZIP: b | DU