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2023-12-30 23:09 |
清華大學(xué)“激光器相對(duì)強(qiáng)度噪聲的測(cè)試系統(tǒng)及方法”專利公布
12月30日，據(jù)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，清華大學(xué)申請(qǐng)一項(xiàng)名為“激光器相對(duì)強(qiáng)度噪聲的測(cè)試系統(tǒng)及方法”，公開號(hào)CN117309331A，申請(qǐng)日期為2023年10月。 Nb'''W-iu
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專利摘要顯示，本申請(qǐng)涉及激光器性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種激光器相對(duì)強(qiáng)度噪聲的測(cè)試系統(tǒng)及方法，其中，系統(tǒng)包括：光電探測(cè)器用于接收待測(cè)激光器的光信號(hào)，并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；信號(hào)處理電路用于對(duì)電信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理，獲得處理后的電信號(hào)；頻譜分析儀用于對(duì)處理后的電信號(hào)進(jìn)行譜密度分析，獲得待測(cè)激光器的譜密度，并根據(jù)譜密度得到待測(cè)激光器的相對(duì)強(qiáng)度噪聲。由此，解決了相關(guān)技術(shù)中針對(duì)低相對(duì)強(qiáng)度噪聲、小輸入光功率的情況，造成相對(duì)強(qiáng)度噪聲項(xiàng)遠(yuǎn)小于散粒噪聲項(xiàng)，增加了二次擬合系數(shù)的不確定性，導(dǎo)致測(cè)試的精度較低，降低測(cè)試系統(tǒng)的精確性，且測(cè)試步驟較為繁瑣，降低了測(cè)試的簡(jiǎn)潔性的問(wèn)題。
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