茂萊光學(xué)“一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測(cè)量裝置”專利公布

據(jù)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，茂萊光學(xué)新獲得一項(xiàng)實(shí)用新型專利授權(quán)，專利名為“一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測(cè)量裝置”，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202321867057.2，授權(quán)日為2024年1月5日。 IRdR3X56  
專利摘要：本實(shí)用新型公開(kāi)了一種大尺寸透鏡邊沿厚度差測(cè)量裝置，包括夾具主體、千分表，夾具主體兩側(cè)設(shè)有相互平行的上夾板和下夾板，上夾板和下夾板之間垂直設(shè)有兩組限位柱，上夾板在兩組限位柱之間的中心線上設(shè)有螺紋孔，千分表的探頭垂直穿過(guò)螺紋孔，并指向下夾板，下夾板上靠近上夾板一側(cè)設(shè)有調(diào)節(jié)柱和兩組定位柱，調(diào)節(jié)柱位于兩組定位柱之間中心線上，且與千分表的探頭同軸對(duì)齊。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)中在測(cè)量大尺寸透鏡邊沿厚度差時(shí)，為了保證透鏡外圈與旋轉(zhuǎn)臺(tái)同軸度精度，對(duì)透鏡進(jìn)行敲擊，容易造成透鏡平面磨損，影響表面光潔度，同時(shí)費(fèi)時(shí)費(fèi)力，對(duì)旋轉(zhuǎn)臺(tái)的平面精度要求高的問(wèn)題。 -$kIVh