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2024-04-07 08:06 |
用于光學(xué)測量的菲索干涉儀
摘要 #d*mG = E[t\LTt*n 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。 JXGIVH?Rpu M`KrB5a+6 [attachment=127675] YurK@Tq7 %7O`]ik: 建模任務(wù) Yiu)0\ o *WfOB2rU [attachment=127676] )dJM p2!x8`IB* 傾斜平面下的觀測條紋 ~VUNN[
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