| infotek | 2024-05-27 08:12 |
光纖耦合系統(tǒng)的公差分析在我們的上一期技術(shù)簡訊中，我們將焦點(diǎn)放在光纖耦合設(shè)置的參數(shù)優(yōu)化上，采用快速物理光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件 VirtualLab Fusion 為您提供的用戶友好型工具，以實(shí)現(xiàn)光纖耦合的最大效率，。然而，實(shí)踐中良好的光學(xué)設(shè)計(jì)的特征不僅在于可以最大化特定評價(jià)函數(shù)的參數(shù)的最佳組合。另一個(gè)關(guān)鍵方面是它的穩(wěn)健性：由于設(shè)計(jì)過程中假設(shè)的條件在現(xiàn)實(shí)環(huán)境中無法完美滿足，因此合乎邏輯的下一步是分析系統(tǒng)幾何形狀的微小偏差如何影響整體結(jié)果。 為此，VirtualLab Fusion 中的參數(shù)運(yùn)行允許用戶執(zhí)行參數(shù)掃描。作為一個(gè)例子，我們分析了設(shè)計(jì)良好的光纖耦合透鏡在不同公差因素下的耦合效率，例如光纖末端位置的橫向偏移和耦合透鏡的傾斜。此外，下面提供了對參數(shù)運(yùn)行的掃描模式的深入研究，其中研究了參數(shù)空間的二維區(qū)域（具有結(jié)果可視化的其他可能性）。 光纖耦合裝置的公差分析  在光纖耦合光學(xué)裝置中，耦合效率是根據(jù)光纖末端位置偏移和透鏡傾斜等公差因素進(jìn)行分析的。 參數(shù)運(yùn)行掃描模式 | |