從0.1nm到1mm,顯微測(cè)量?jī)x測(cè)量拋光至粗糙表面
顯微測(cè)量?jī)x是納米級(jí)精度的表面粗糙度測(cè)量技術(shù)。它利用光學(xué)、電子或機(jī)械原理對(duì)微小尺寸或表面特征進(jìn)行測(cè)量,能夠提供納米級(jí)甚至更高級(jí)別的測(cè)量精度,這對(duì)于許多科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用至關(guān)重要。
j/9WOIfa 在拋光至粗糙表面測(cè)量中,顯微測(cè)量?jī)x器具有從0.1nm到1mm的測(cè)量范圍,每種儀器都有其獨(dú)特的功能和應(yīng)用范圍。 {y-2 8?7kIin 三種不同顯微測(cè)量技術(shù)在測(cè)量表面粗糙度方面的優(yōu)勢(shì)詳解 uxOJ3 [attachment=128817] w<65S 'Y!pY]Z 一、光學(xué)3D表面輪廓儀 wmo{YS3t| 工作原理: l(%k6
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