| infotek | 2024-08-07 07:54 |
用Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具檢測鈉D線 Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具廣泛應(yīng)用于激光諧振器和光譜學(xué)中，用于敏感波長的濾波。通常，它們由兩個(gè)高反射(HR)涂層表面和之間的空氣(或玻璃)組成。在這個(gè)例子中，建立了一個(gè)以硅為間層的標(biāo)準(zhǔn)具光學(xué)測量系統(tǒng)，以測量鈉D線。利用非序列場追跡技術(shù)，充分考慮了多元反射對條紋對比度的影響，研究了涂層的反射率對條紋對比度的影響。 建模任務(wù)  具有高反射(HR)涂層的標(biāo)準(zhǔn)具  圖層矩陣解算器  分層介質(zhì)組件采用圖層矩陣電磁場求解器。該求解器工作在空間頻域(k-域)。它包含 1. 一個(gè)特征模求解器為每個(gè)均勻?qū)雍?span style="display:none"> \DE, , 2. 一個(gè)s矩陣，用于在所有接口處匹配邊界條件。 本征模求解器計(jì)算各層均勻介質(zhì)k域的場解。S-矩陣算法通過遞歸方式匹配邊界條件計(jì)算整個(gè)圖層系統(tǒng)的響應(yīng)。 | |