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2024-09-19 07:57 |
菲索光學(xué)測試干涉儀
摘 要 xc@Ss[ 2JGL;U$ 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 T{v>-xBRy O+q/4 建模任務(wù) }<a^</s tq1CwzRX
p>w]rE:} <AH1i@4 傾斜平面下的觀測條紋 ]=pR
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