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infotek 2024-10-24 08:27

用于光學相干斷層掃描技術的邁克爾遜干涉儀

光學測量 > 干涉測量 IwJ4K+  
"B"Yfg[  
任務/系統(tǒng)說明 2?./S)x)  
RwyRPc _  
d]!`II  
 Z:3SI$tO  
亮點 /CfgxPo  
N:nhS3N<L  
Htn''adg5  
 P<s 0f:".  
•從光線追跡分析到快速物理光學建模的簡單轉換； #'lqE)T  
•對相干效應以及干涉圖樣的高速仿真； H4{CiZ  
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具體要求：光源 \Jy/ a-  
b`yb{& ,?  
4/:}K>S_  
5@&{%99  
具體要求：用于準直的消色差透鏡 4_&+]S  
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