| opturn |
2009-06-10 10:36 |
光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例2：設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例
光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例：設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例 pa3{8x{9m
P>D)7 V9Hh
參數(shù)為：500-600nm AR QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52) q:0N<$63
'KL0@l
層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). JR21>;l#2
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設(shè)計(jì)：同Evaluation過(guò)程基本一樣，區(qū)別在于多加入了設(shè)計(jì)目標(biāo)Target的輸入.打開(kāi)Datebase窗口并單擊Target，輸入設(shè)計(jì)目標(biāo)500-600nm范圍的減反膜： :\c ^*K(9
[attachment=18975] ]:-
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