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2009-06-29 13:39 |
LenScan鏡面定位儀的原理
LenScan鏡面定位儀的原理: gwGw Q{[l1: LenScan鏡面定位儀的光學(xué)原理,為采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀,并且參考鏡位置可以精確移動(dòng),當(dāng)干涉儀的測量臂與參考臂光程相等時(shí),才能夠發(fā)生干涉。這樣通過監(jiān)控參考鏡的移動(dòng),就可以測量被測鏡的位置。 J7;8
S 其工作原理圖如下: ,>p1:pga n }kn|To~ 工作過程: Source(短相干光源)發(fā)出短相干光束,經(jīng)Coupler(耦合器)分束成兩束光,這兩束光分別通過Collimators(準(zhǔn)直儀)聚焦到Measurement arm(測量臂) 和Reference arm(參考臂)上,在測量臂段,光束經(jīng)待測物前后兩表面反射產(chǎn)生R1和R2兩束反射光;在參考臂段,光束被delay line(延遲線路)中的scan mirror(可掃描的參考鏡) 反射。各反射光束經(jīng)光學(xué)光纖返回到Coupler中,此時(shí)掃描反射鏡反射的光束分別與R1和R2兩束光發(fā)生干涉產(chǎn)生兩干涉信號經(jīng)Photodiode(光電二級管)轉(zhuǎn)換為電信號再由顯示儀顯示。 LWdA3% U9"(jl/o 測量方法: 通過調(diào)節(jié)掃描參考鏡在延遲光路上的位置,調(diào)出兩干涉信號分別出現(xiàn)極大值的兩個(gè)位置,此兩極值位置所對應(yīng)的掃描參考鏡在延遲光路上的位置之差即待測物品的光學(xué)厚度。而其實(shí)際厚度則為光學(xué)厚度除以其折射率。 P,J+'.@ 考慮到光源的短相干特性,LenScan在應(yīng)用中有以下特征需要注意: a%nf
)-}| (1) 采用短相干光源,且滿足相干長度小于待測物品的光學(xué)厚度的兩倍,從而使得反射光束R1和R2相互不能發(fā)生干涉; vSnGPLl (2) 掃描參考鏡的反射光與反射光束R1(或R2)的光程差小于短相干光源相干長度時(shí),才能發(fā)生干涉并產(chǎn)生相干信號。且光程差為零時(shí),干涉信號才出現(xiàn)極大值,故兩極值位置所對應(yīng)的掃描參考鏡在延遲光路上的位置之差即待測物品的光學(xué)厚度。 8IkmFXj (3) 掃描參考鏡在延遲光路上的位置精度有兩種等級:LS系統(tǒng),采用光柵尺測量( 1μm);LI系統(tǒng),采用激光測距( 150nm)。 5>6:#.f%!e [KL-T16 LenScan 鏡面定位儀的應(yīng)用: Xj9\:M- 9-+N;g!q 主要用于光學(xué)系統(tǒng)中的位置和厚度測量。其中典型應(yīng)用為透鏡中心厚度測量和通過測量透鏡間空氣隙的長度來控制透鏡在透鏡系統(tǒng)光軸中位置(如下圖)。 0%<OwA2d ({3Ap{Q} s(T0lul \,xa_zeO 72CHyl`|l 歡迎瀏覽我們公司網(wǎng)站: www.opturn.com 或 技術(shù)博客: opturn.blog.sohu.com 或 直接電話聯(lián)系: 010-62527842,62527843 t6uYFxE e9R
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