| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供應(yīng)新型光學(xué)膜厚控制儀
CDNY-03AM 光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀 t6j(9[gGq
a-O9[?G/x
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù)，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有極強(qiáng)的抑制能力。 :p OX,
主要性能指標(biāo)及技術(shù)指標(biāo) 0xH$!?{b
`<[Zs]Fe 4
主信號(hào)通道： 2< ^B]N
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?span style="display:none"> 9B<y w.
輸入量程：0.5mV-500mV Q:tW LVE#0
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5% o. sa ?*
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端) A*@!tz<
性誤差: ≤0.1% .-nA#/2-
零點(diǎn)時(shí)源： ≤0.2%/h z07! i@ue~
參考信號(hào)通道： AEEy4 9e
e}aD <E G
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?span style="display:none"> G!%1<SLi.
輸入幅度：20-700mV E7y<iaA{~
頻率范圍:≥320。 ?EKYKLwr
[attachment=25842]
|
|