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leon-lou 2012-02-21 13:18

波前探測(cè)用于離軸（off-axis ）光學(xué)測(cè)量

一種基于Shack-Hartmann原理的新一代光學(xué)診斷儀器，不僅可以用于近軸on-axis光學(xué)質(zhì)量測(cè)試，還可以用于離軸off-axis光學(xué)測(cè)量，并可用于復(fù)雜透鏡測(cè)試 R#bV/7Ol  
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