近日，中國(guó)科學(xué)院計(jì)劃財(cái)務(wù)局組織驗(yàn)收專(zhuān)家對(duì)新疆理化技術(shù)研究所承擔(dān)的中科院科研裝備研制項(xiàng)目——光電成像器件抗輻射性能檢測(cè)設(shè)備”進(jìn)行了驗(yàn)收。

　　該設(shè)備由光電響應(yīng)性能檢測(cè)分系統(tǒng)、光譜傳遞函數(shù)與光譜響應(yīng)度檢測(cè)分系統(tǒng)、輻射定標(biāo)分系統(tǒng)、控制與數(shù)據(jù)處理分系統(tǒng)及試驗(yàn)輔助裝置等部分組成。該設(shè)備具有檢測(cè)典型光電成像器件飽和輸出電壓、飽和曝光量、光輻射響應(yīng)度、相對(duì)光譜響應(yīng)、響應(yīng)度非均勻性、電荷轉(zhuǎn)移效率、光譜和白光傳遞函數(shù)、暗信號(hào)、暗噪聲、噪聲等效曝光量、動(dòng)態(tài)范圍、非線(xiàn)性度、固態(tài)圖片噪聲等主要特性參數(shù)的功能，并可測(cè)定光電成像器件（CCD）受輻照后輻照劑量與CCD特性參數(shù)衰變的關(guān)系。

　　驗(yàn)收專(zhuān)家組認(rèn)真聽(tīng)取了項(xiàng)目負(fù)責(zé)人郭旗研究員作的項(xiàng)目工作情況匯報(bào)，并就相關(guān)問(wèn)題進(jìn)行了提問(wèn)和討論，一致認(rèn)為光電成像器件抗輻射性能檢測(cè)設(shè)備是一套光電成像器件抗輻射性能定量檢測(cè)與評(píng)價(jià)系統(tǒng)，在國(guó)內(nèi)首次實(shí)現(xiàn)了CCD等光電成像器件抗輻射性能的全參數(shù)定量測(cè)試與分析；項(xiàng)目方案設(shè)計(jì)合理，技術(shù)路線(xiàn)正確，檔案與技術(shù)資料翔實(shí)、齊套，全面完成了實(shí)施方案規(guī)定的各項(xiàng)功能和技術(shù)指標(biāo)要求；該設(shè)備已在航科集團(tuán)、中電集團(tuán)、中科院長(zhǎng)春光機(jī)所等多家衛(wèi)星、載荷及器件研制單位的光電成像器件（CCD、CMOS傳感器）抗輻射性能考核與評(píng)估中得到了成功的應(yīng)用。項(xiàng)目經(jīng)費(fèi)使用合理，按照項(xiàng)目任務(wù)書(shū)要求完成了各項(xiàng)研制任務(wù)。驗(yàn)收專(zhuān)家組一致同意通過(guò)驗(yàn)收。

　　該研制項(xiàng)目在國(guó)內(nèi)首次建立了定量評(píng)價(jià)光電成像器件抗輻射性能的檢測(cè)設(shè)備；首次實(shí)現(xiàn)了輻照試驗(yàn)中CCD等光電成像器件性能參數(shù)較全面的定量檢測(cè)與分析；形成的光電成像器件抗輻射性能檢測(cè)技術(shù)與方法，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)光電成像器件檢驗(yàn)領(lǐng)域的空白，為相關(guān)檢測(cè)工作的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化奠定了基礎(chǔ)。