打開這個(gè)文件后，點(diǎn)擊分析(Analysis)選項(xiàng)卡>光線跡點(diǎn)(Rays & Spots) > 標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)列圖(Standard Spot Diagram)。我們希望查看軸上結(jié)果，并可以在完成非序列系統(tǒng)之后將其作為參考。

展開點(diǎn)列圖的設(shè)置，并進(jìn)行以下更改:光線密度(Ray Density)= 40，樣式(Pattern)設(shè)為雜亂(Dithered)，視場(Field)= 1，勾選顯示艾里斑(Show Airy Disk)，并關(guān)閉使用標(biāo)注(Use Symbols)。

點(diǎn)列圖顯示了像面上的光線密度，但沒有z軸時(shí)表示輻照度的疊加。為了觀察輻照度分布，我們可以使用幾何圖像分析(Geometric Image Analysis)。點(diǎn)擊分析(Analysis)選項(xiàng)卡>擴(kuò)展圖像分析(Extended Scene Analysis) >幾何圖像分析。

展開幾何圖像分析的設(shè)置，并進(jìn)行如下更改：視場尺寸(Field size)= 0，像面尺寸(Image size)= 0.02，光線X 1000(Rays X 1000) = 1000，顯示(Show) = 偽彩色(False Color)，像素?cái)?shù)( # Pixels) = 200。