散射特性用來描述入射雜散光在光機件表面上如何傳播和擴散，是進行精確雜散光仿真分析的基礎(chǔ)。如果表面散射模型描述不準(zhǔn)確，則雜散光在光學(xué)系統(tǒng)中的傳播路徑與實際存在一定甚至很大的偏差，從而導(dǎo)致分析結(jié)果準(zhǔn)確性和可靠性不高。因此，需要實測樣片的散射特性以滿足高精度雜散光分析需求。 $W0lz#s:  
該散射特性測量儀具有角度分辨率高，測試靈敏度高，測試動態(tài)范圍大等特點，其主要技術(shù)指標(biāo)為： ,g\.C+.S  
u  可測波長：405/532/640nm； "HYK~V  
u  測量精度：優(yōu)于0.2%； 9'4cqR  
u  重復(fù)性精度：優(yōu)于0.1%； aX  ?ON
 
u  角度精度：優(yōu)于0.1°； \j K?R 6  
u  動態(tài)范圍：˃1013； C(gH}N4  
u  等效噪聲BSDF：˂10-8 sr-1。 J\ 3~  
ALBATROSS-TT散射特性測量儀主要用于光學(xué)系統(tǒng)光機件表面散射特性測量，包括雙向反射分布函數(shù)（BRDF）、雙向透射分布函數(shù)（BTDF）和半球空間積分散射TIS測量。還可用于光學(xué)元件表面的反射率和透過率測量（絕對測量）。