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morningtech:改變了tooling參數(shù),那么晶控儀為達(dá)到同樣的樣品厚度(設(shè)計(jì)厚度),監(jiān)控到的晶振片的層厚度就變了。假定二者真實(shí) 比例 未變,那樣品上的厚度也必將變化。 i?+ZrAx> (2018-10-17 11:57) +Sz%2Q