摘要 CYwV]lq:s  
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在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過測量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長度。典型的傅里葉變換光譜通�；�于這種類型的光路。 ]vn*eqd  
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圖片:1-1Z505111A3359.png

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建模任務(wù) H-v[ShE  
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圖片:1-1Z505111G2295.png

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橫向干涉條紋——50 nm帶寬 <*dcl2xS  
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圖片:1-1Z505111I9147.png

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橫向干涉條紋——100 nm帶寬 J@E]Fl  
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圖片:1-1Z505111KH46.png

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逐點(diǎn)測量 JehanF[  
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圖片:1-1Z505111S15B.png

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VirtualLab概覽 -s`Wd4AP  
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