摘要
Ms ?V1 Yfy6o6*: yy?| q0 干涉測量是一種
光學(xué)計量的重要技術(shù)。 它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，
機械和高
精度熱變形等領(lǐng)域的測量。 作為一個典型的例程，在非
序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干
激光源的馬赫-曾德爾
干涉儀，本案例清楚地展示了
光學(xué)元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。
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~ S>7Zq5* 建模任務(wù)
q{f%U. vII&v+C sTqy-^e7 元件傾斜引起的干涉條紋
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